Testkonzepte

Ein weiterer Schwerpunkt ist unsere Qualitätssicherung mit Null-Fehler-Anspruch.
Beim „In-Circuit-Tests (ICT)“ werden die bestückten Leiterplatten auf Fehler in der Bestückung, Lötfehler und Bauteilefehler untersucht. Mit dem Testsystem werden analoge und digitale Parameter von Bauteilen geprüft, indem man Testsignale einspeist, die am Ausgangspin ausgemessen werden.

Die Bauteilmessungen beim ICT-Test (In-Circuit-Test) werden mit sehr niedrigen Spannungen und Strömen durchgeführt, um keine Bauteile zu beschädigen oder um zu vermeiden, dass Diodenstrecken leitend werden. Die wichtigsten Parameter des Tests sind: Kurzschlusstest (unzulässige elektrische Verbindung), Widerstandswerte, Kapazitätsmessungen von Kondensatoren, die Induktivität von Spulen und Transformatoren, Dioden und Feldeffekttransistoren. Weitergehende Tests prüfen die Entladeroutine von Kondensatoren, Kontakttests, Tests zur richtigen Polarität von Kondensatoren und vieles mehr. Kundenspezifische Tests können Frequenz-Messungen, LED-Tests, Hochvolt-Messungen oder Dauertests sein.

Beim Funktionstest der Baugruppen werden die Gesamt- oder Teilfunktionen der Schaltung überprüft. Bei diesen Go oder NoGo Prüfungen werden fehlerhafte Flachbaugruppen aussortiert. Umfangreichere ICT-Tests und zusätzliche Tests wie zum Beispiel Frequenz- oder Hochspannungsmessungen werden auf Kundenwunsch an spezifischen Prüfgeräten durchgeführt.
Gerne integrieren wir Ihre Testanforderungen in unseren Produktionsablauf.